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XGZ-3 全息照相系列實驗 全息照相可以實現(xiàn)對物體的高密度存儲、加密及三維顯示。全息照相和常規(guī)照相不同，在底片上記錄的不是三維物體的平面圖像，而是光場本身。常規(guī)照相只記錄了反映被拍物體表面光強的變化，即只記錄光的振幅，全息照相則記錄光波的全部信息，除振幅外還記錄了光波的位相。即把三維物體光波場的全部信息都貯存在記錄介質中。

XGZ-1 信息光學實驗 本實驗具有較強的實踐性和技術性，是一組理論與實踐并重的實驗。本實驗通過新穎的光學實驗現(xiàn)象可以使學生加深對有關理論知識（空間頻譜、光學傅立葉變換及全息學）的理解，進一步拓寬學生的知識面，培養(yǎng)學生良好的實驗素質。

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統(tǒng) 本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試、距離、速度測試、物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置 利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。 實驗內容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖，了解激光散斑現(xiàn)象及其特點 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點分析和全場分析測物體面內位移的方法

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統(tǒng) 電子散斑干涉（ESPI）實驗系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉技術相結合的一種現(xiàn)代光測技術。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見，采用CCD攝像機，使之可采用計算機處理數(shù)據和圖像。電子散斑干涉應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。

SGD-2 單光子計數(shù)實驗系統(tǒng) 該實驗系統(tǒng)，由單光子計數(shù)器，半導體制冷系統(tǒng)，外光路光學系統(tǒng)，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統(tǒng)采用了脈沖高度甄別計數(shù)和數(shù)字計數(shù)技術，具有較高的線性動態(tài)范圍。輸出的數(shù)字信號，便于計算機處理，為教師做相關教學提供了必要的實驗環(huán)境。

WGL-8晶體電光調制實驗儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應原理的激光振幅調制器的使用，掌握晶體電光調制的原理和實驗方法；學會用簡單的實驗裝置測量晶體半波電壓，電光常數(shù)；觀察電光效應引起的晶體光學特性的變化和會聚偏振光的干涉現(xiàn)象；進行激光通信演示實驗。

WGL-3 脈沖調Q Nd：YAG倍頻激光器實驗裝置 該實驗系統(tǒng)讓學生通過自己動手裝調激光器，掌握激光器的基本結構、主要參數(shù)、輸出特性、調整方法、以及調Q、選模、倍頻等。使學生對激光器的原理，激光技術有較全面的認識。

WGL-6 氦氖激光器模式分析實驗裝置 在激光器的生產與應用中，我們通常需要先知道激光器的模式狀況，如精密測量、全息技術等工作需要基橫模輸出的激光器，而激光器穩(wěn)頻和激光測距等不僅要基橫模而且要求單縱模運行的激光器。因此，進行模式分析是激光器的一項基本又重要的性能測試。

WGL-5 半導體激光器實驗系列 儀器介紹 通過測量半導體激光器的功率，電壓和電流，讓學生了解半導體激光器在連續(xù)輸出下的工作特性。用WGD-6光學多道分析器觀測，半導體激光器注入電流小于閾值時發(fā)射的熒光，和大于閾值電流時產生激光振蕩的譜線變化。